X射线衍射（XRD）和X射线荧光（XRF）是两种重要的材料分析技术。
XRD主要用于晶体结构分析，通过X射线衍射图谱可以确定材料的物相、晶粒大小、应变等信息。
XRF则用于元素成分分析，能够快速无损地检测材料中的元素组成。